31 de mayo de 2025
Clasificación e Inspección de Materiales Semiconductores con SWIR
Cómo una planta de empaquetado de semiconductores usa imagen SWIR para ver a través del silicio — atrapando grietas internas de obleas y defectos de pegado que la inspección visible no ve, y clasificando obleas recuperadas por lo que realmente llevan dentro.
caso de estudioSWIR infrarrojo de onda cortasemiconductor
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